Un nouveau système pour l’analyse en ligne de faisceaux X au synchrotron
Antonio Pereira (équipe Films minces), Christophe Dujardin (équipe Luminescence) et Mariana Levinta (stage NSE), en collaboration avec l’ESRF viennent de publier l’article « Low-absorption, multi-layered scintillating material for high resolution real-time X-ray beam analysis » dans la revue Journal of Material Chemistry C.
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Les synchrotrons proposent des expériences uniques permettant l’analyse de la matière. Une des grandes limitations actuelle est la correction des fluctuations du faisceau X d’analyse en terme de position, d’intensité et de profil. En utilisant le dépôt par ablation laser sur une membrane poreuse, les auteurs ont réalisé un écran multicouche qui permet de satisfaire les trois critères majeurs de qualité: une bonne transparence aux rayons X et une bonne efficacité, en général antagonistes, ainsi qu’une grande capacité à l’imagerie haute résolution. Ce système permet maintenant l’analyse en ligne des paramètres de faisceaux avec l’obtention d’image toutes les 50ms. |
20/04/2015 