Evaporer un isolant par bombardement électronique.

Nicholas Blanchard et les membres de l'équipe PNEC Antoine Niguès, May Choueib, Sorin Perisanu, Anthony Ayari, Philippe Poncharal, Stephen Purcell, Alessandro Siria et Pascal Vincent viennent de publier un article intitulé "Electron beam assisted field evaporation of insulating nanowires/tubes" dans la revue Applied Physics Letters.

La technique de sonde atomique tomographique permet une analyse unique des matériaux en ionisant atome par atome l'échantillon ce qui permet de reconstruire chimiquement et à l'échelle atomique le matériau étudié. Si la technique de sonde pulsée électriquement est bien adaptée pour des matériaux métalliques, les échantillons semi-conducteurs ou isolants sont difficiles voire impossibles à étudier. Dans ce contexte les auteurs ont montré que pour ioniser positivement des matériaux isolants on pouvait simplement les bombarder par des électrons. Il a été ainsi démontré que l'on pouvait évaporer des matériaux isolants sous MEB ou TEM en utilisant le faisceau d'électrons pour provoquer l'évaporation de l'échantillon. Cela permet également d'utiliser la finesse du spot pour évaporer sélectivement des objets nanométriques très proches. Ces travaux, qui ont fait l'objet d'un dépôt de brevet, devraient faciliter l'étude des matériaux semi-conducteurs et isolants par sonde atomique tomographique.

21/05/2015