Réponse acoustique des films nanogranulaires
Acoustic response of nanogranular films
Luca Gavioli, professeur invité à l'UCBL, et Francesco Banfi (équipe FemtoNanoOptics), en collaboration avec des collègues de Lyon, Vérone et Brescia, ont publié un article intitulé " Analytical model of the acoustic response of nanogranular films adhering to a substrate " dans la revue Physical Review B.
Luca Gavioli (invited Professor at UCBL) and Francesco Banfi (FemtoNanoOptics team), with colleagues from Lyon, Verona and Brescia published an article entitled " Analytical model of the acoustic response of nanogranular films adhering to a substrate " in the journal Physical Review B.
Dans le cadre d'une collaboration entre iLM, INSA Lyon, CHU de Vérone et Università Cattolica, les auteurs ont mis au point un modèle analytique, appelé « modèle à piliers », conçu pour décrire la réponse acoustique des films nanogranulaires. Le modèle décrit la physique qui gère la dissipation acoustique à une interface désordonnée. Le modèle fournit à l'expérimentateur un outil analytique étalonné et facile à adopter pour extraire les paramètres physiques de la couche d'interface à partir des données acoustiques. Le modèle est invariant d'échelle et peut être exploité en dehors des matériaux granulaires dans d’autres situations impliquant une interface « patchée », comme par exemple des applications de contrôle qualité pertinentes dans le secteur de la microélectronique.
In the frame of a collaboration involving iLM-Université Claude Bernard Lyon 1, INSA Lyon, University Hospital of Verona, and Università Cattolica, scientists proposed an analytical model, called « Pillar model », to rationalize the acoustic response of nanogranular films. The pillar model captures the relevant physics responsible for acoustic dissipation at a disordered interface. Furthermore, it provides to the experimentalist an easy-to-adopt, benchmarked analytical tool to extract the interface layer physical parameters upon fitting of the acoustic data. The model is scale invariant and may be deployed, other than the case of granular materials, where a patched interface is involved, such as in post-processing quality control in the microelectronics sector.
