Un comptage simple et rapide des monocouches atomiques
Simple and fast counting of one-atom-thick layers
Fabien Vialla (équipe FemtoNanoOptics) en collaboration avec un collègue du Mans, a publié un article intitulé "Backside absorbing layer microscopy: monolayer counting in 2D crystal flakes" dans la revue physica status solidi (b) - basic solid state physics.
Fabien Vialla (FemtoNanoOptics team) with a colleague from Le Mans, published an article entitled "Backside absorbing layer microscopy: monolayer counting in 2D crystal flakes" in the journal physica status solidi (b) – basic solid state physics.
Les travaux proposent un protocole d’analyse d’image original qui ne repose sur aucun paramètre physique ou instrumental, permettant ainsi l’évaluation simple et rapide du nombre de couches dans des empilements de matériaux de van der Waals déposés sur substrat. Appliqué avec une technique de microscopie optique innovante (BALM – Microscopie inversée sur couches absorbantes) pour l’observation de nitrure de bore hexagonal exfolié (hBN, matériau transparent formé de couches d’épaisseur mono-atomique), un comptage précis de 1 à 35 monocouches empilées a été démontré sans aucune calibration préalable.
The study proposes an original image analysis protocol which does not rely on any physical nor instrumental parameter, allowing the fast and simple evaluation of the number of layers in stacks of van der Waals materials deposited on a substrate. Applied to the innovative BALM (Backside Absorbing Layer Microscopy) optical imagery with exfoliated hexagonal boron nitride flakes (hBN, a transparent material composed of one-atom-thick layers), a precise counting from 1 to 35 monolayers in stacks has been demonstrated with no prior calibration.
