Un comptage simple et rapide des monocouches atomiques
Fabien Vialla (équipe FemtoNanoOptics) en collaboration avec un collègue du Mans, a publié un article intitulé "Backside absorbing layer microscopy: monolayer counting in 2D crystal flakes" dans la revue physica status solidi (b) - basic solid state physics.
Les travaux proposent un protocole d’analyse d’image original qui ne repose sur aucun paramètre physique ou instrumental, permettant ainsi l’évaluation simple et rapide du nombre de couches dans des empilements de matériaux de van der Waals déposés sur substrat. Appliqué avec une technique de microscopie optique innovante (BALM – Microscopie inversée sur couches absorbantes) pour l’observation de nitrure de bore hexagonal exfolié (hBN, matériau transparent formé de couches d’épaisseur mono-atomique), un comptage précis de 1 à 35 monocouches empilées a été démontré sans aucune calibration préalable.
